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Wir suchen Bacheloranden, Masteranden, HiWis im Bereich Test von resistiven RAMs (RRAMs).

Mögliche Arbeiten:

  • Entwicklung eines Fehlermodells auf Basis von Herstellungsfehlern unter Berücksichtigung der Material- und Strukturabweichungen
  • Entwicklung von Testverfahren für RRAMs

Erforderliche Vorkenntnisse:

  • Grundlegendes Verständnis von Memristive Devices und Prüftheorie
  • Ausgeprägte Kenntnisse in der CMOS-Technologie - Mikroelektronik
  • Ausgeprägte Kenntnisse in der Schaltungssimulation (z.B. HSPICE)

 

Ansprechpartner: Prof. Dr. Leticia Maria Bolzani Poehls

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